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检测和测试技术的应用对于集成电路先进制程NPI的意义

主讲人:费春潮(中芯国际集成电路制造(上海)有限公司) 上传时间:2022/05/23 10:16
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一个产品的从研发到推出往往有一个极其漫长的过程,但往往只有一次机会,错过或弄错,不仅意味着机遇的丧失、无从谈起的营收利润,更很可能是一些规模不大的设计公司的致命噩梦。我们通常讲一款产品设计研发占50%,生产制造50%,而如果设计研发阶段错误或不全面,结果往往一招致命。 集成电路产品设计初期,往往受限于空间(长宽高尺寸),时间(研发到上市时间的局限性),性能(电性能和热性能,模拟仿真),市场(应用面,利润率,研发投入,竞争产品对比)等多种因素。 设计公司design house,前期需要电路设计,封装设计(选型和结构)、电性能仿真,热性能仿真等等相当繁琐的技术研发。由于wafer设计制造和封装设计制造往往分属于两家或多家企业,导致界面(机械应力,热应力,电性能)问题频发。但任何一个设计优化、变更的修改,又牵动着研发投入和时间,材料,性能,成本,利润率和上市推出节点等诸多因素随之变动。因此,一次成功,尤为重要。如何一次成功,能用,够用,好用,实用?集成电路上下游各环节不能再单打独斗了,需要联合创新研发。

讲师简介:

复旦大学微电子学硕士和复旦大学半导体物理博士生。从事半导体行业超过20年,曾任职于日月光半导体、星科金朋和江阴长电等封装测试企业,从事工艺工程、新产品导入和技术研发工作,担任首席工程师、部门经理、产品处长及研发总监之职,目前是中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 CPI工程及后段外包总监。拥有国内外20多项专利和集成电路制造和半导体工艺丰富的技术研发经验,主持和带领中芯国际先进制程的CPI(Chip and Package Interaction)研发团队。成功创立了HASS(HUAWEI/ASE/SPIL/SMIC)集成电路技术联盟,并成功举办多次技术年会。

相关领域:

(食品/饮料/烟草)-(焙烤食品及糕点食品)

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