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工业CT大视野扫描及重建算法研究

主讲人:陈云斌(中国工程物理研究院应用电子学研究所) 上传时间:2021/10/15 18:49
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工业CT作为无损检测的重要技术手段,是现代工业生产、科学研究进行质量控制、状态监测、设计验证的有力分析仪器。工业CT的检测对象千差万别,大视野扫描模式和重建算法是实现大尺寸工件CT成像的必要技术手段。本文介绍工业CT实现大视野扫描的几种常用模式,包括探测器偏置扫描、转台偏置扫描、转台单侧多次偏置扫描,并对其重建算法、伪影校正、扫描几何姿态参数测量等关键技术进行介绍。

讲师简介:

2009年6月,北京理工大学硕士研究生毕业。同年加入中物院应用电子学研究所,从事工业CT相关技术开发工作。研究方向包括:成像系统设计、工业CT成像算法理论及工程应用、无损检测应用等。发表学术论文10余篇,申报国家发明专利3项。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(物性测试仪器及设备)-(无损检测仪器/设备)-(工业CT)

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