非接触式电阻抗成像（CIT）技术是一种基于电阻层析成像（ERT）技术发展而来的新型过程层析成像（PT）技术，它通过电容耦合的思想实现非接触式电阻抗测量，并同时对电阻抗的实部和虚部加以利用以提高电阻抗信息的利用率。该报告将展示CIT技术的发展历程，主要涉及传感器结构、图像重建算法以及相关应用等内容。
