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宽禁带半导体原子尺度缺陷的加工、模拟与光谱表征

主讲人:徐宗伟(天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室) 上传时间:2021/08/31 10:13
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课程详情

碳化硅SiC、氮化镓、氧化镓和金刚石等第三代半导体是制造高温、高压、高频、大功率半导体器件的优良材料。受原子尺度制造的极限难度挑战,低阻p型SiC和原子尺度色心的制备仍是亟待解决的难题。基于离子注入和飞秒激光加工、原子尺度模拟、变温共聚焦拉曼/荧光光谱等方法,研究了Al离子注入SiC的电学性能,以及SiC硅空位、双空位色心、金刚石色心的加工产率。

讲师简介:

徐宗伟,天津大学英才副教授,博导,研究领域:宽禁带半导体器件、超快能量束(离子、fs激光)加工、拉曼及荧光光谱表征、微纳加工机理、微刀具制备及纳米切削技术。中国电子显微镜学会聚焦离子束专业委员会委员。

相关领域:

(电子/电气/通讯/半导体)-(半导体)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(扫描电镜(SEM))

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