日立高新于2021年6月正式推出新一代的AFM100系列原子力显微镜，它在提高操作便利性基础上，实现了更低噪音，更高分辨率和更低的漂移量。系列包括高性能AFM100 Plus及其入门型号AFM100两种机型。通过使用该系列AFM，任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据。可用于形貌观察、粗糙度分析、物性评估等领域。通过AFM Marking功能，可实现与电子显微镜同一位置观察。
