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试样制备在显微镜技术中的使能作用——关于原子力显微镜技术的反思

主讲人:苏全民(中国科学院沈阳自动化所) 上传时间:2021/08/27 15:57
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基于探针,电子束和光谱的成像技术在近二十年都取得了变革性的进展。技术进展主要聚焦在显微镜核心技术本身。以原子力显微镜为例,对于技术进展的关注侧重于成像模式,成像速度以及物理,化学测量的关联成像等,往往不包括试样制备因素。本次报告将聚焦于各种显微镜试样制备技术的对比,并以一些试样制备为使能的技术革命为例来阐述其作用。

讲师简介:

苏全民,国家特聘专家,纳米定位和测量国家标准专家组成员,全国显微镜协会理事,于2017年全职回国,现为中国科学院自动化研究所研究员和天津大学兼职教授。回国前为美国布鲁克公司高级技术总监,领导原子力显微镜(AFM)技术和系统的研发。苏全民是53 项美国授权专利的发明人,领导布鲁克原子力显微镜的技术和产品开发,曾获 R&D 100(2002)和 Microscopy Today(2012) 年度最佳产品奖。苏全民发表了80多篇论文;并组织了“Seeing at the Nanoscale”系列国际会议,担任过各种国际会议的分会主席,如MRS , M&M, AVS等,并在多个国际会议(IEEE, MRS,M&M,AVS等)做过大会,分会和专题特邀报告。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM))

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