首页> 网络讲堂> FIB 3.0技术在显微学领域的应用

FIB 3.0技术在显微学领域的应用

主讲人:曹丽洁(卡尔蔡司(上海)管理有限公司) 上传时间:2021/06/30 18:51
  • 观看:456 次
  • 收藏:(1)
  • 评论:0人

课程详情

聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)具有强大的加工和成像功能,广泛应用于微纳加工领域。蔡司于2020年初发布了飞秒激光-聚焦离子束加工平台FIB3.0,在聚焦离子束的基础上增加了飞秒激光用于加工,打破了FIB在加工效率和加工尺寸方面的限制,使得大尺寸高精度快速加工成为可能。同时,结合蔡司光学显微镜、X射线显微镜等,可实现FIB3.0在更多领域的拓展和联用。

讲师简介:

曹丽洁,蔡司中国显微镜资深应用专家(SEM/Laser+FIB),德国波鸿鲁尔大学博士,主要研究方向为金属材料力学性能及微观组织表征。具有丰富的电镜技术应用经验,曾以第一作者在金属材料顶级期刊Acta Materialia,Scripta Materialia,MSEA等学术期刊发表多篇学术论文。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(扫描电镜(SEM))

我来说两句

还可以输入500发表评论

您好,请如实填写以下信息后观看视频