扫描电子显微镜是一种介于光学显微镜和透射电子显微镜之间的一种重要观察手段，其利用高能聚焦电子束作为光源，可实现样品的高分辨观察和分析。本次讲座主要内容： 1. SEM的原理与特点； 2. JEOL FE-SEM应用于材料的高分辨表征； 3. JEOL FE-SEM应用于材料的高效分析； 4. 总结。
