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Cu2Se基热电材料微结构的电镜研究

主讲人:吴劲松(武汉理工大学) 上传时间:2021/06/30 18:06
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Cu2Se是一种有潜力的热电材料,具有低热导的优点。同时Cu2Se也是快离子导体,在外温度场和电场的作用下,Cu离子发生快速迁移,导致有效材料流失和性能衰减。我们通过电镜来研究材料的微结构,以及随温度产生的相变,发现了几种由掺杂元素引起的阻碍离子迁移的机制,为发展具有高稳定性的Cu2Se基热电材料提供了新的思路。

讲师简介:

吴劲松博士师从郭可信院士在中科院北京电镜实验室学习。随后在欧美的电子显微镜实验室(包括德国Juelich研究中心、美国亚利桑那州立大学、美国乔治亚大学,美国西北大学等)工作。吴劲松于2018年全职回国工作。他现任武汉理工大学纳微研究中心执行主任。他共发表科技论文150余篇,其中包括Science (2), Nature Nanotechnology (1), Nature Materials (1),Nature Communication (2), JACS (10), Advanced Materials (5), Nano Letters (4),ACS Nano (9)等。他曾获国际电镜学会、日本电镜学会、德国洪堡奖金等多项奖励。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(透射电子显微镜(透射电镜、TEM))

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