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集成配准EBSD标定算法及其应用

主讲人:施奇伟(上海交通大学) 上传时间:2021/06/30 16:10
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本报告介绍电子背散射衍射(EBSD)的新标定方法:集成配准法。该方法基于动力学模拟得到的标准图案,采用全局集成数字图像相干技术,来配实验图案,以得到图案中心和欧拉角。该方法收敛速度快,角度分辨率可达0.01°以下,图案中心精度在千分之一,可同时标定晶界处的多组晶向角,且可方便的移植到其他衍射实验领域。

讲师简介:

施奇伟,上海交通大学讲师,巴黎萨克雷大学工科博士毕业。主讲电路基础、流体力学、量子力学等本科生课程,已出版法语版教材《电子电路基础》《流体力学基础》两本。研究方向为数字图像相关(DIC),电子背散射衍射技术(EBSD)的开发和晶体塑性模拟,提出了四元数相关法以追踪晶体变形、集成配准EBSD标定法、基于梯度的EBSD标定法、集成配准高分辨EBSD测量应力等方法,精度皆达到了业界先进水平。在《Ultramicroscopy》《Mater. Charact.》《Meas. Sci. & Technol.》等期刊发表论文20余篇,申请国内专利、国际专利共5项。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(电子背散射衍射系统(EBSD))

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