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SPM——表面分析与界面观测

主讲人:陈强(岛津企业管理(中国)有限公司) 上传时间:2020/12/18 13:45
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SPM自上世纪八十年代被发明以来,极大丰富了人们对材料表面各种属性的观察分析能力。但随着研究的深入,SPM对作用力检测的分辨率瓶颈制约了其应用的深度和广度。一方面,图像分辨率需要进一步提高;另一方面,反应动力学研究也提出了对界面力学观测的要求。新的SPM技术需要面对这些挑战。

讲师简介:

毕业于北京理工大学生命学院。具有16年操作使用原子力显微镜的经验,对各种原子力显微镜功能及各类样品测试均有丰富的经验;从事原子力显微镜技术及市场工作10年,对各类原子力显微镜技术及各厂商特点均有深入的了解。

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(化学分析仪器)-(X射线仪器)-(X光电子能谱仪(XPS/ESCA))

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