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四探针扫描隧道显微镜的发展与应用

主讲人:马瑞松(中国科学院物理研究所) 上传时间:2020/09/25 16:09
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四探针扫描隧道显微镜(STM)能够将STM超高的空间分辨率和标准的四端输运测试方式结合起来,可以快速无损地对石墨烯等二维材料的结构和输运性质进行原位表征。本次报告将首先介绍四探针STM系统的发展历程,其次介绍对一台商用四探针STM的升级改造过程,第三部分是基于改造后四探针系统的石墨烯输运性质研究,最后对多探针系统的发展进行了展望。

相关领域:

(电子/电气/通讯/半导体)-(综合)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM))

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