XPS作为一种高效的表面分析手段，因其元素化学态敏感性和表面敏感的特性，可以很好地揭示材料的表面和界面信息。同时，随着表面分析技术拓展性的逐渐增强，结合其他分析技术，如UPS、REELS、ISS和Raman联用等等，可以提供更丰富的样品信息。本报告主要介绍和分享XPS与REELS、UPS和Raman等分析技术联用，在聚合物、冰、OLED和石墨烯等材料的表征中提供全方位的多功能性应用。
