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原位电子显微学在材料研究的应用—徐强(代尔夫特理工大学)

主讲人:徐强(代尔夫特理工大学) 上传时间:2019/08/20 11:28
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透射电子显微技术(TEM)在材料形貌、结构的表征上发挥着重大的作用,是研究材料不可或缺的重要工具之一。传统电子显微学的应用主要局限在表征材料的微观结构、成分。原位透射电⼦子显微技术的发展使得可以在声、光、电、热、磁以及复杂的化学环境下,实时地动态地记录材料样品与环境的相互作用下微观显微结构的变化。这一技术的应用可以让我们在透射电镜里,直接应用材料工艺的处理、原子结构变化的记录、物理化学性质测量、以及环境服役性能的评价的多种关联性的表征。   从而在实验的基础上直观的展示材料的工艺-结构-性质-性能的相关特性,帮助指导设计合成、优化微结构调控,促进新物质的探索和深层次物质结构研究,为新能源、新材料,和化工反应等领域的具体问题提供了新的方法与思路。⽬目前国际上越来越多的研究者已经利⽤用实时原位电⼦子显   微学表征在⾃自⾝身领域的研究中获得了突破,本次报告将重点分享在材料和化学领域最新的应用成果。    


相关领域:

(电子/电气/通讯/半导体)-(综合)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(透射电子显微镜(透射电镜、TEM))

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