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应用原子力显微镜实现纳米尺度定量物性测量—PeakForce Tapping 的物理原理解析

主讲人:Su Chanmin 上传时间:2016/03/18 15:50
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自从2010年PeakForce TappingTM问世以来,全球研究者应用该技术发表了超过1000篇经同行评审的专业文章。其中一些论文出现在高影响期刊,如 《自然》和《科学》。
PeakForce Tapping提供了原子和分子级别的高分辨成像,延伸了原子力显微镜的物性测量到一系列前所未有的试样。在本次研讨会上,苏全民(Chanmin Su)博士将阐述PeakForce Tapping 的基本物理原理和实现pico Newton作用力控制的工程方法。本次讨论还将注重多功能物性定量分析以及解析方法。在机械及力学测量之外,我们还将讨论应用PeakForce Tapping 作为纳米尺度电学 以及化学测量的工具,如 KPFM,nanoscale IR等。
此外,本次研讨会将剖析PeakForce Tapping 技术的几个成功的产生高影响因子的应用案例。这些案例包括材料与生物科学中的高分辨成像,利用PeakForce QNM, KPFM, TUNA和IR作定量属性的分析。最后还对PeakForce Tapping 的最新的技术和未来的潜力进行讨论。

讲师简介:

苏全民博士于2000年加入Veeco公司担任资深科学家进行原子力显微镜系统的技术研发,并于2005-2008年担任研发总监。现就任布鲁克公司纳米表面仪器部AFM事业部高级技术总监。 苏全民博士是29项美国专利的发明人或共同发明人,其专利领域包含原子力显微镜技术和材料在纳米尺度上的表征,其中包括峰值力轻敲模式,快速扫描原子力显微镜,纳米机械性能、电学和化学性能图谱等。其中许多技术上的发明直接形成了工程产品上的应用突破,比如峰值力轻敲模式和基于峰值力模式的纳米机械性能定量表征。他是几个扫描探针显微镜国际会议的共同组织者,并在扫描探针相关的国际会议担任分会场主席。苏全民博士担任多个国内外前沿技术的评审,被多次邀请到各种国际研讨会进行演讲。苏全民博士在2000年获得了NASA颁发的服务奖,2002年获得美国“百佳科技奖”(R&D100 Awards),2012年获得“Microscopy Today最佳创新奖”

相关领域:

(仪器仪表)-(仪器仪表)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM))

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