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精彩回放
本次网络会议亦为第七届滨松中国成像网络技术交流会,滨松科研级相机高级技术工程师将分享滨松科研级相机最新的成像应用,并着重介绍滨松ORCA-Flash 4.0 系列科研级sCMOS相机的2016新升级,多个最新应用也将同时展现。
另外第三届滨松中国成像大赛的各个奖项,也将在会议中揭晓。工程师也将分享精彩参赛作品。
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在空间光调制器所实现的光束中,有一类光束具有螺旋相位波前结构和相位奇点的特殊光场分布,这类光波通常被称作“光学涡旋(Optical Vortex)”。它正被越来越多地应用于操纵粒子的“光学扳手”以及进行光通信所用的光学编码。视频中,工程师将带你了解,如何通过相机+空间光调制器实现涡旋光的应用。
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Agilent 4210 MP-AES 使用空气进行的元素分析
在典型的多元素分析中,Agilent 4210 MP-AES 拥有更高的灵敏度、低至 ppb 水平的检测限、全面超越传统火焰原子吸收的分析效率。Agilent 4210 MP-AES 最大的优点是使用空气运行,无需采用可燃气体。
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数据收集完成之后,我们需要对原始数据进行一系列的还原和校正才能获得我们所需要的强度数据。只有恰当的数据还原才能够获得精确的,用于结构解析和精修的衍射数据。因而这一步通常是最关键,但也是经常容易出错的一步。很多情况下,Rint值过高,完整度不足的情况都是由于数据还原过程中的参数不当造成的。因而选择合适的参数,并且了解数据还原过程中一些指标和参数代表的意义,不仅能够帮助我们获得质量更高的数据,还能够帮助我们分析数据中存在的问题,从而避免无效的重复劳动。
APEX/PROTEUM软件在数据还原和校正这一步中,采用了功能强大的SAINT和SADABS(TWINABS)程序。根据衍射数据的情况,一些关键参数实时调整的功能能够帮助我们轻松还原得到高质量的强度数据。简洁明了的图形界面,不仅直观地反馈了数据还原的质量,还提供了直接调整某些关键参数的功能。尤其在最新的APEX3/PROTEUM3软件中,Scale界面完美地提供了增强的孪晶数据处理功能,即便是新手也能轻松获得高质量的孪晶衍射数据。
本次讲座将为您讲解晶体数据还原和校正的一些关键参数和指标的概念,如何对弱衍射数据更好的还原,如何进行精确的multi-scan校正和数字吸收校正,如何分析完整度不足的问题。期待与您相会。
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光电倍增管是滨松最富盛名的产品之一,作为共聚焦显微镜中的探测器,我们经常听到GaAsP、PMT阵列等相关名词,在本视频中,滨松的工程师将向您介绍光电倍增管中各项参数、配置都是怎么回事儿;此外也将对比PMT和HPD、APD等其他光电探测器。
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Flash 4.0系列一直是sCMOS相机市场中的旗舰产品,滨松也一直在针对用户的需求不断地升级技术。最新的Flash 4.0 V3不仅在像素均一性、USB 3.0拍摄帧速等方面均进行了提升,而且还加入了许多特别的功能和选项以适应于各类不同应用的需求。
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通常认为,只要移液吸头与移液器匹配,移液精确度就能保证,然而事实并非如此。本次讲座将为您介绍吸头质量如何影响移液精准度,以及多种影响因素,揭开影响实验结果的冰山一角。
我们将会探讨:
> 影响移液精准度产生误差的原因
> 移液精准度的理解误区
> 影响吸头与移液器匹配性的因素
> 精准移液的解决方法
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1. 布鲁克摩擦磨损试验机Tribo
2. 摩擦磨损电化学模块及测试原理
3. 腐蚀摩擦磨损的典型研究应用
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Sievers膜电导率检测技术用于检测总有机碳(TOC)含量,并被证明为十分精准可靠的检测方法。不同于非分散红外检测(NDIR,non-dispersive infrared)技术,Sievers膜电导率检测法能显示六个数量级的动态范围,可以防止随时间的明显数据漂移,从而极具稳定性。因此使用薄膜电导率检测技术,设备无需频繁校准,所得到的检测结果十分稳定,具有不可比拟的分析性能,能成为用户在日常工作中依赖的主要工具。
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为促进国内外光谱工作者的学术及技术交流,仪器信息网自2012年起每年举办“光谱网络会议”(iConference on Spectroscopy,简称iCS)”。会议依托成熟的网络会议平台,致力于为国内的广大光谱工作者提供一个突破时间地域限制的学习平台,以促进业内交流,提高光谱研究与应用水平。并让大家足不出户便能聆听到光谱专家的精彩报告,节省时间和资金成本。
??2016年6月28日至6月30日,仪器信息网将继续举办“第五届光谱网络会议”,开设原子光谱、近红外光谱、拉曼光谱共三个主题专场。大会将邀请业内光谱专家,以及厂商技术人员针对不同的主题做精彩报告,并与大家进行交流。