场发射扫描电子显微镜
其它测量/计量仪器
品牌：德国
型号：Sigma HD
仪器名称：
场发射扫描电子显微镜
英文名称：
无
所属分类：
计量仪器 > 电磁学计量仪器 > 100kHz以下交流电流国家基准
学科领域：
材料科学
主要技术指标：
分辨率： @1KV： 1.9 nm；
@15KV： 1 nm；
放大倍数：10× ～ 1,000,000×
2. 样品台：五轴- eucentric；
样品移动范围 X: 130mm
Y: 130mm
Z: 50mm
T: -3°～ +70°
R: 360°
可承受样品重量：倾
主要功能：
1. SEM: 用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。
2. 能谱分析系统：
a) 元素分析：用于元素定性、定量分析；
b) 线分布：用于测定沿样品某一直线上的特定元素分布；
c) 面分布：用于测定沿样品某一区域内的指定元素分布。
3. EBSD应用：晶体取向分析、晶体间夹角（位向差）分析、织构分析、晶粒度及晶界类型分析。
