扫描电子显微镜
扫描电镜（SEM）
品牌：天美
型号：SU1510
仪器名称：
扫描电子显微镜
英文名称：
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域：
化学
主要技术指标：
电子光学系统★2.1分辨率：二次电子：高真空下，分辨率≤3.0nm @30kV背散射电子：低真空下，分辨率≤4.0nm @30kV2.2加速电压：范围不窄于0.3 ~ 30kV，步进≤100V/步，连续可调。★2.3放大倍率(以底片为准)：最低有效倍率≤5倍，最高倍率≥300,000。可提供三维图样信息，放大倍数自动校准，低倍率与高倍率之间无需模式更换；★2.4电子枪：≥四级自动偏压功能, 增加低电压下电子枪发射电子数目，保证低电压下有效信号探测2.5灯丝：预对中灯丝，安装方便，并具有高中低三级灯丝饱和度自动调节系统，延长灯丝使用寿命；2.6镜筒部分：四片聚光镜光阑一体化设计，无需拆卸镜筒，无需专业维护工程师到现场，用户可完成清洗和更换全部聚光镜光阑★2.7物镜光阑：配备真空外手动调节的物镜光阑，光阑孔数≥4孔，最小物镜光阑孔径≤10um2.8成像模式：可获得二次电子像，背散射电子像及其两种图像混合像；★2.9多窗口式背散射电子探测器：根据不同窗口组合获得成分像、形貌像和三维像；窗口数目≥4个；2.10图像捕捉模式：快扫描捕捉、慢扫描捕捉、积分捕捉；
主要功能：
1.1 用于样品的形貌、结构观察及微区成分分析1.2具备自动比例偏压功能，低加速电压观察导电性不好的样品，保护样品不受电子束损伤，同时获取样品表面最真实的形貌1.3具备多窗口捕获背散射电子信号功能，样品成像效果真实1.4具备低真空功能，导电性不好的样品可以直接观察1.5具备软件、硬件安全保护功能，避免样品与探头碰撞危险，保护样品
