典型用户

新材料内部结构透射测试分析设备

透射电子显微镜（透射电镜、TEM）品牌：日本电子型号：JEM-2100F

仪器名称：

新材料内部结构透射测试分析设备

英文名称：

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.1nm stem像上的线分辨率0.2nm

主要功能：

1.材料的内部结构 2.材料的成分分析 3.材料晶体结构信息

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