典型用户

便携式相控阵超声成像检验系统

探伤机、探伤仪品牌：TE 型号：Omni-MX

仪器名称：

便携式相控阵超声成像检验系统

英文名称：

所属分类：

物理性能测试仪器 > 探伤仪器 > 超声探伤仪

学科领域：

机械工程

主要技术指标：

支持多达128晶片的相控阵探头，一次可激活16个晶片,系统带宽0.75~20MHz，脉冲重复频率20KHz可调; 脉冲发射/接收延时0~10um，2.5ns步进，100MHz A/D转换，16个TCG/DAC曲线校准点，20dB/us，每个聚焦法则具有独立的TCG/DAC曲线，可同时实现A、B、C、D、S和TOFD实时显示，在编码器采集过程中实时显示三视图。A扫描显示可实现分区扫查和带状图，A、B扫描显示可无级缩放。

主要功能：

1.相控阵扇形扫查技术 2.相控阵电子扫查技术 3.横波脉冲反射（P/E）B-扫描、C-扫描和D-扫描技术 4.单通道衍射时差技术（TOFD） 5.多通道衍射时差技术（TOFD）