典型用户

高温原位检测X射线衍射仪

X射线衍射仪(XRD) 品牌：德国型号：D8 ADVANCE

仪器名称：

高温原位检测X射线衍射仪

英文名称：

所属分类：

分析仪器 > X射线仪器 > X射线衍射仪

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

1.测角仪角度重现性:0.0001°；2.管电压:铜靶40KV，40mA，钴靶40KV，35mA；3.辐射光线180-250mm，0.002deg最小步长；4.试样类型：片状、块状、粉末、液态物质；5.可用角度范围-110°＜2θ＜168°；6.最大角速度：20°/s；7.闪烁计数器线性范围：最大计数：≥1x108cps，线性范围:≥4x107cps；8.最小可控步长:0.0001°；9.循环水泵：最小4L/min，压力4-7.5bar，出口侧无压力，温度10℃-20℃；10.电源：单相208-240V，三相120V、230V、240V，47-63Hz；11.高低温附件温度范围-180℃-400℃，温度控制精度为±0.1℃。

主要功能：

1.粉末衍射：鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度；对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析；微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）；指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修。2.薄膜和涂层：薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴别、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和μm之间的层状材料进行特性分析，从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜等。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：掠入射衍射。X射线反射；高分辨率X射线衍射；倒易空间扫描。