颗粒表面分析及元素测量系统
沉降粒度仪/颗粒沉降仪
品牌：OM
型号：Phenom ProX
仪器名称：
颗粒表面分析及元素测量系统
英文名称：
Particle surface analysis and element measurement system
所属分类：
分析仪器 > 其他 > 其他
学科领域：
化学 材料科学 物理学
主要技术指标：
1、放大倍率：集成在主机中的光学显微镜放大20-134倍，电子放大可到150,000倍。2、图像分辨率：优于8nm。3、灯丝材质：采用CeB6单晶灯丝；单根灯丝寿命：≥1500h。4预抽真空时间：小于15s5能谱元素分辨率：≤123eV（Mn Kα）6元素探测范围：B（5）-Am（95）7元素分析：自动和手动元素确认8能谱谱线拟合方式：反卷积拟合方式9可显示能谱的点扫、线扫、面扫功能10颗粒表面测量系统：1)可对生成图像进行自动颗粒分析2)探测速度：高达1000个/分钟3)测量属性自动识别：大小、形状、数量。
主要功能：
1、微纳米材料表面形貌成像。2、纳米颗粒自动分析，自动识别大小，形状，数量。3、微区元素成分分析
