芯片测试系统

仪器名称：

芯片测试系统

英文名称：

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

生物学

主要技术指标：

在数字测试通道数方面：具有高度可扩展性，，可从128 通道扩展至4096 通道(以128 通道为最小扩展单位)。数字测试速度：具有从100M~1600M 数据率根据要求升级，无需更换板卡支持多种测试速度的数字通道板卡混插，各类丰富的模拟测试模块可供选择的模拟测试。

主要功能：

超大规模集成电路芯片的测试，包括package和晶圆测试，处理器芯片 2：高速芯片的测试，如HDMI，USB，SATA，PXI，SERDES，电视/网络设备/硬盘设备接口芯片 3：大规模系统级芯片的测试，包含各种IP，如memory单元，高速模拟单元，射频单元，高速接口单元。 4：超大电流类网络芯片的测试，网络基站类通讯芯片 5：可用于高速/高精度 ADC/DAC测试