典型用户

电子显微镜SEM

扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）品牌：TE 型号：VEGA II SBU

仪器名称：

电子显微镜SEM

英文名称：

scanning electron microscope

所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

　1 分辨率：　　高真空：二次电子 3.0nm(30kV)，8.0nm(3kV) 背散射电子 3.5nm(30kV) 低真空：背散射电子 3.5nm(30kV)　　2放大倍数: 6x～1,000,000x　　3加速电压：0.2～30kV，连续调整　　4 低真空范围： 3～500帕　　5电子枪：预对中钨灯丝，操作界面能如实显示实际灯丝使用时间。　　6 探测器：二次电子探测器：要求采用YAG材质的闪烁体；可移

主要功能：

超快检测；精细微测量

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上海理工大学拥有电池测试设备、气质联用仪、扫频源OCT成像系统、连续输出太赫兹源、动态捕捉相机成像系统、在线过程控制近红外光谱仪、PSV-400B激光非接触振动测量仪、颗粒图像测速仪、龙门式三坐标测量机、扫描仪等科研仪器。

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