聚焦离子束系统
扫描电镜(SEM)
品牌:MP
型号:FIB200
仪器名称:
聚焦离子束系统
英文名称:
Focused Ion Beam System
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
电子与通信技术
主要技术指标:
分辨率5nm,30kV加速电压,离子束流1-11000pA
主要功能:
FIB200目前主要用以0.18um 以上集成电路修补包括Pt互连,新型辅助气体搭配离子束快速切割,低阻值探点的快速生成,电阻模拟,X-section 和TEM lamella 的制备等.