典型用户

场发射透射电镜

扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）品牌：日本电子型号：JEOL-2100F

仪器名称：

场发射透射电镜

英文名称：

Field emission transmission electron microscopy

所属分类：

分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

1.点分辨率：0.19nm2.线分辨率：0.14nm3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV4.倾斜角：255.STEM分辨率：0.20nm

主要功能：

JEM-2100F/HR配有高亮度的场发射电子枪，可实现超高分辨率图像的观察，同时还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。可实现TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera一体

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上海电力学院

上海市高校

上海电力学院拥有振动模态分析测试系统、综合物性测量系统、电液伺服疲劳测试系统、扫描电子显微镜、二维粒子成像测速系统、风洞、真实色共聚焦显微镜、显微拉曼光谱仪、光纤激光器及熔覆系统、三座标测量机等科研仪器。

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