典型用户

IC芯片线路缺陷检测仪

室内空气质量监测/检测仪 品牌:AMA 型号:uPhemos-200

仪器名称:
IC芯片线路缺陷检测仪

英文名称:
OBIRCH

所属分类:
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 其他

学科领域:
电子与通信技术

主要技术指标:

主要功能:
OBIRCH可用于IC芯片内部高阻抗及低阻抗分析, 线路漏电路径分析。利用OBIRCH方法,可以有效地对芯片线路中的缺陷进行检测定位,如线路线条中的空洞、通孔下的空洞、通孔底部高阻区等;也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。

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闳康技术检测(上海)有限公司拥有三维数位显微镜、热发射显微镜、全自动抗静电抗拴锁试验设备、扫描超声波显微镜、二次离子质谱仪、IC芯片线路缺陷检测仪、高阶埃克斯光检测系统、微光显微镜、高性能双束聚焦离子束显微镜、高阶扫描超声波显微镜等科研仪器。

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