典型用户

高分辨率双晶衍射仪

X射线衍射仪(XRD) 品牌：RD 型号：QC3

仪器名称：

高分辨率双晶衍射仪

英文名称：

XRD

所属分类：

分析仪器 > X射线仪器 > X射线衍射仪

学科领域：

物理学化学

主要技术指标：

测标准片：两轴晶下的强度：70 M cps （15M cps——200M cps）两轴晶下半高宽： 8.7 arcsecond （6 arcsecond——10 arcsecond）三轴晶下的强度：26.8 M cps （5M cps——80M cps）三轴晶下半高宽： 7.4 arcsecond （5 arcsecond——12 arcsecond）

主要功能：

QC3 专注于化合物半导体工业里质量控制所用的高分辨X射线衍射仪，适合所有共同的半导体材料特性研究，包括硅、砷化镓、磷化铟、氮化镓及其他材料。