扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:日本电子
型号:JSM-6460LV
仪器名称:
扫描电子显微镜
英文名称:
无
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
材料科学 机械工程
主要技术指标:
1. 分辨率 高真空模式:3.0nm (30KV)
低真空模式:4.0nm (30KV)
2. 能谱仪:
分辨率: MnKα峰的半高宽优于133eV(计数率为25000cps)
分析元素:Be4~U92.
3. INCA Crystal电子背散射衍射系统(EBSD)。
主要功能:
SEM;用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析
能谱分析系统:元素分析:用于元素定性、定量分析。
线分布:用于测定沿样品某一直线上的特定元素分布
面分布:用于测定沿样品某一区域内的指定元素分布
EBSD应用:晶体取向分析、晶体间夹角(位向差)分析、织构分析、晶粒度及晶界类型分析