典型用户

扫描电子显微镜

扫描电镜(SEM) 品牌:日本电子 型号:JSM-6460LV

仪器名称:
扫描电子显微镜

英文名称:

所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域:
材料科学 机械工程

主要技术指标:
1. 分辨率 高真空模式:3.0nm (30KV) 低真空模式:4.0nm (30KV) 2. 能谱仪: 分辨率: MnKα峰的半高宽优于133eV(计数率为25000cps) 分析元素:Be4~U92. 3. INCA Crystal电子背散射衍射系统(EBSD)。

主要功能:
SEM;用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析 能谱分析系统:元素分析:用于元素定性、定量分析。 线分布:用于测定沿样品某一直线上的特定元素分布 面分布:用于测定沿样品某一区域内的指定元素分布 EBSD应用:晶体取向分析、晶体间夹角(位向差)分析、织构分析、晶粒度及晶界类型分析

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