超大规模集成电路测试系统

仪器名称：

超大规模集成电路测试系统

英文名称：

T2000 TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 数模混合信号测试系统

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

射频载波频率：12GHz，通讯协议：GSM/GPRS、EDGE、WCDMA、CDMA ONE (IS95)、CDMA2000、Bluetooth、ZigBee、802.11a/b/g/n、 WiMax-e、FM等；8对6.4Gbps高速接口；1024个测试频率1Gbps高速数字测试通道

主要功能：

Ultra FLEX测试系统提供所需的功率和精密复杂的SoC设备以便于服务移动应用程序、网络、存储或高端处理。当设备组合和吞吐量目标要求最高速度、精度、覆盖率和站点数时，Ultra FLEX测试系统是最佳选择。