典型用户

聚焦离子束显微镜

扫描电镜（SEM）品牌：FEI 型号：V400ACE

仪器名称：

聚焦离子束显微镜

英文名称：

Focused ion beam microscope

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

材料科学

主要技术指标：

加速电压：0.5kV-30kV射束电流：1.1pA-65nA图像分辨率：4.5nm

主要功能：

V400ACE™ 聚焦离子束（FIB）系统采用了离子镜筒设计、气体输送和端点探测领域的最新发展成果，可实现对高级集成电路的快速、高效和具备成本效益的电路编辑。

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上海市企业

闳康技术检测(上海)有限公司拥有三维数位显微镜、热发射显微镜、全自动抗静电抗拴锁试验设备、扫描超声波显微镜、二次离子质谱仪、IC芯片线路缺陷检测仪、高阶埃克斯光检测系统、微光显微镜、高性能双束聚焦离子束显微镜、高阶扫描超声波显微镜等科研仪器。

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