X射线荧光光谱仪
透射电子显微镜（透射电镜、TEM）
品牌：FIS
型号：ARL9900XP
仪器名称：
X射线荧光光谱仪
英文名称：
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜
学科领域：
物理学
主要技术指标：
4个固定道、1个扫描道；分析元素Ｏ-Ｕ
主要功能：
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm，高40mm。
