场发射扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:FEI公司
型号:Nova NanoSEM 450
仪器名称:
场发射扫描电子显微镜
英文名称:
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
材料科学
主要技术指标:
二次电子分辨率:resolution of secondary electron
高真空模式high vacuum mode:1.0nm @ 15kV 1.4nm @ 1kV
低真空模式low vacuum mode:1.5 nm @ 10kV 1.5nm @ 30kV
加速电压Accelerating voltage:50V-30kV,连续可调, continuously adjustable
电子束流范围range of electron beam: 0.6pA - 200nA, 连续可调
能谱仪energy dispersive spectroscopy(OXFORD X-MAXN50)
升级型硅漂移探测器,50mm2有效探测面积,分析元素范围:Be4-Cf98
主要功能:
主要用于高分子、无机非金属、金属材料等样品的表面形貌观察及元素成分分析。广泛应用于物理、化学、高分子、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验