典型用户

MEMS晶圆测试系统(探针台)

探针台 品牌:LI 型号:Solidus STI3000

仪器名称:
MEMS晶圆测试系统(探针台)

英文名称:
Probe Station

所属分类:
电子测量仪器 > 其他 > 其他

学科领域:
材料科学

主要技术指标:
STI3000 High Performance Wafer Probe Test SystemElectroglass Wafer Handler Model 2001STI Custom Production Test CodeSTI System IntegrationDevice Specific Probe Cards (PCB only)

主要功能:
进行加速度、陀螺仪、麦克风、气压等电容式传感器的晶圆级测试测试静态和动态参数

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上海新微技术研发中心有限公司

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上海新微技术研发中心有限公司拥有射频信号源、三离子束切割仪、高分辨率X射线实时成像仪++CT断层扫描仪、IGBT功率循环及热阻测试设备、扫描电子显微镜、功率器件动静态测试设备、压力传感器自动测试设备、射频微波探针台、光传感器测试编带机、信号分析仪等科研仪器。

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