光学表面轮廓仪
轮廓仪
品牌：BI
型号：Xi-100 Plus optical profiler
仪器名称：
光学表面轮廓仪
英文名称：
Optical Surface Profilometer
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 其他
学科领域：
材料科学 电子与通信技术
主要技术指标：
1. 垂直测量范围：0.1nm 至 1mm2. 垂直分辨率：<0.1nm ra3.="" rms重现性：0.01nm4.="" 垂直扫描速度：可达14.4微米/秒5.="" 横向分辨率：0.08="">
主要功能：
光学轮廓仪提供精确、非接触表面测量，可运用于微机械系统、薄膜、光学器件、陶瓷、高级材料等领域。
