典型用户

高精光纤测试熔接系统

光纤光谱仪 品牌:AE 型号:LDS2.5

仪器名称:
高精光纤测试熔接系统

英文名称:

所属分类:
工艺试验仪器 > 加工工艺实验设备 > 其他

学科领域:
物理学 材料科学

主要技术指标:
用于光纤精确测试,定位熔接以及特殊端口加工等,温度场温度最低800℃、最高1800℃,温度场稳定性±5℃,每秒300次温度场监控,温度场三电极所围等边三角形横截面积是传统两电极的近百倍,光纤包层直径为50-2500um,所有类型保偏光纤的高消光比熔接典型值35dB,气孔的塌陷长度小于光纤外径的50%,可以实现无塌陷熔接,有圆台型光纤端帽(大截面直径≤20mm,小截面直径≤2.5mm),圆柱形光纤端帽(截面直径≤2.5mm),具有十个维度的动态调节和反馈对准(左右光纤X/Y/Z/θ轴对准、俯仰角对准、左/右偏角对准、端面对准),俯仰角±10°调节范围,0.01°调节分辨率(1弧度/s),Z轴粗推进距离90mm,推进分辨率1um,Z轴精推进距离为130um,推进分辨率为100nm,X/Y轴推进距离为12mm,推进分辨率为50nm,θ轴旋转精度为±0.25°,光学系统成像最大170倍成像,拉锥长度为150mm,单向光纤拉锥标准拉锥比例为10:1,双向光纤拉锥比例为50:1,锥形探针为10um直径光纤探针

主要功能:
光纤测试、定位、熔接、拉丝、特殊形貌构造等精密光纤制作

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