典型用户

紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪

椭偏仪品牌：TE 型号：SER850

仪器名称：

紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪

英文名称：

所属分类：

分析仪器 > 光谱仪器 > 其他

学科领域：

天文学

主要技术指标：

FTIR在400cm-1 ～6,000cm-1 (1.7?μm–25μm)光谱范围内提供了极好的精度和分辨率。

主要功能：

光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度，折射率，消光系数以及体材料，单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的，现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。

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中国科学院紫金山天文台拥有太赫兹测量平台、任意波形发生器、高真空超导薄膜沉积设备、实时数字频谱仪原理样机、电子探针、太赫兹超导阵列成像系统、0.3K冷冻机组、拉曼光谱仪、自动键合机、三坐标测量仪等科研仪器。

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