加速寿命老化实验箱
吸附管老化仪、活化仪
品牌：MC
型号：PC-422R8
仪器名称：
加速寿命老化实验箱
英文名称：
HAST
所属分类：
工艺试验仪器 > 电子工艺实验设备 > 半导体集成电路工艺实验设备
学科领域：
材料科学 信息科学与系统科学 电子与通信技术 信息与系统科学相关工程与技术
主要技术指标：
测试箱体尺寸 420∮*657D 毫米（84.4L） 420∮*657D 毫米（84.4L）有效箱体尺寸 340∮*475D 毫米（40L）容积：0.08776m3， 试验温度 105.0~133.3℃/100%RH 110.0~140.0℃/85%RH 105.0~133.3℃/100%RH 110.0~140.0℃/85%RH温度范围 118.0~150.0℃/65%RH 118.0~150.0℃/65%RH 湿度范围 65~100%RH 压力范围 0.019~0.208MPa
主要功能：
加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
