典型用户

半导体材料综合测试仪

集成电路测试仪 品牌:TE 型号:Keithley 4200A-SCS

仪器名称:
半导体材料综合测试仪

英文名称:
Semiconductor Characterization System

所属分类:
电子测量仪器 > 通用电子测量仪器 > 集成电路测试仪

学科领域:
信息科学与系统科学 物理学 工程与技术科学基础学科 材料科学

主要技术指标:
I-V 源测量单元:100fA测量分辨率,10 mHz-10 Hz超低频率电容测量,C-V多频率电容单元,(CVU),AC阻抗测量 (C-V, C-f, C-t),1 kHz - 10 MHz 频率范围 ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源 (420 V 差分),脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU) 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道,200 MSa/s,5 ns 采样率,±40 V (80 V p-p),±800 mA,瞬态波形捕获模式:任意波形发生器 Segment ARB® 模式 任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率。

主要功能:
可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为性能最高的参数分析仪, 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。

典型用户

云南大学

云南省 高校

云南大学拥有气质联用仪、全自动DNA遗传分析仪、激光扫描共聚焦显微镜、正置荧光显微镜、电池超电容模组测试系统、生物与环境离子信息检测分析系统、偏振塞曼原子吸收分光光度计、荧光显微操作系统、光合仪、生物显微镜成像系统等科研仪器。

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