典型用户

场发射透射电子显微镜

透射电子显微镜（透射电镜、TEM）品牌：FEI 型号：Talos F200X

仪器名称：

场发射透射电子显微镜

英文名称：

Field Emission Transmission Electron Microscope

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜

学科领域：

化学材料科学冶金工程技术

主要技术指标：

1) 分辨率：点分辨率：≤ 0.24nm；线分辨率：≤ 0.14nm；STEM HADDF像分辨率：≤ 0.16nm（4探头同时成像，4幅图像）；信息分辨率：≤ 0.12nm 2) 加速电压： 20Kv-200kV，可连续调节 3) 束流： 0.4nA在0.31nm束斑（@200kV）；1.5nA在1.0nm束斑（@200kV） 4) 放大倍数： TEM放大倍数25 x ~ 1.50Mx，STEM放大倍数：150 x ~ 230Mx 5) 物镜：物镜球差系数：1.2mm；物镜色差系数：1.2mm 6) 样品台参数： X、Y轴行程：±1mm；Z轴行程：±0.375mm；最大样品倾角：（α/β）±30º（普通双倾样品杆），±75º（断层摄影样品杆） 7）能谱仪参数：分辨率：≤ 136 eV；元素分析范围：Be4 ~ U92

主要功能：

可在TEM/STEM两种模式下对试样进行明场或暗场组织形貌观察、物相结构分析、高分辨成像及其成分定性和半定量分析。配置了三位重构和断层摄影系统，可实现STEM/TEM三维重构功能，与EDS结合还可实验3D EDS功能。

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