扫描电子显微镜
扫描电镜(SEM)
品牌:日立
型号:S-3600N
仪器名称:
扫描电子显微镜
英文名称:
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
物理学 化学 材料科学
主要技术指标:
2次电子像分辨率:3.0 nm(高真空方式);反射电子像分辨率:4.0 nm;加速电压:0.3~30 kV,其中0.3~9.99 Kv(10V/步),10~30 Kv(0.1 kV/步);放大倍率:x5~300000;最大样品尺寸:φ254 mm;灯丝:预制中心型发卡式钨灯丝;相散校正:电磁8极XY方式;视野移动:±20μm(W.D.=15 mm);样品微动装置:5轴马达样品平台,X:150 mm;Y:110 mm;Z:5~75 mm;T:-15°~+70°;R:360°连续;图像种类:2次电子像(真高空时),反射电子像(4分割半导体式);扫描方式:TV、慢扫(4级)、选区扫描(3级)、波形、信号监视、照相方式(4级)
主要功能:
可实现大型样品和多样品装载,也能实行低真空模式下绝缘样品的无镀层观察。最大样品尺寸直径254 mm,最大样品厚度70 mm,样品重量最大2 kg。该仪器能够对金属、陶瓷、无机颜料、有机高分子材料等样品以及各种固体材料进行表面微观形貌的观察。