扫描电子显微镜
扫描电镜（SEM）
品牌：泰思
型号：VEGA 3 XMU
仪器名称：
扫描电子显微镜
英文名称：
scanning electron microscope
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域：
材料科学 冶金工程技术 航空、航天科学技术
主要技术指标：
分辨率：3.0nm，能谱仪能量分辨率：Mn Kα优于129eV，元素分析范围：Be (4)- Am (95)，
主要功能：
可开展材料的高倍组织观察、元素定性或定量分析，晶粒取向分布、晶界特性、相的定性或定量分析等，以及原位加热、原位加热拉伸条件下的微观组织结构分析等。
