扫描探针显微镜
扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）
品牌：BR
型号：MultiMode
仪器名称：
扫描探针显微镜
英文名称：
scanning probe microscope
所属分类：
分析仪器 > 显微镜及图象分析仪器 > 扫描探针显微镜
学科领域：
化学 生物学 计算机科学技术 环境科学技术及资源科学技术
主要技术指标：
侧向分辨率可达到2 nm，垂直分辨率小于1 nm。 两个扫描器的扫描范围为20 ?m和150 ?m，控温范围－70oC－800oC
主要功能：
可用于测量聚合物薄膜表面形貌、纳米结构等；研究聚合物的纳米力学性能；多组份体系的表面组成；近表面结构；导电性、摩擦力、磁性等，可原位观察薄膜在温度场（高、低温）中的结晶、相分离等动力学过程。
