典型用户

热阻测试仪

PH计、酸度计品牌：TE 型号：T3STER

仪器名称：

热阻测试仪

英文名称：

所属分类：

电子测量仪器 > 其他 > 其他

学科领域：

动力与电气工程电子与通信技术航空、航天科学技术

主要技术指标：

测试通道数量：标配2通道，同一主机箱内可以升级至8通道温度采集响应时间：1μs 温度测量精度：±0.01℃ 通道测量解析度：12bit 通道噪声：±1bit 取样容量：每个通道64k 加热电压范围：标配1-10V，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电压可达280V 加热电流范围：标配0.01-2A，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电流达100A或更大加热功率脉冲：无时间限制热阻测量范围：0.002-1000℃/W，不确定度小于±1% 测试通道数量：标配2通道，同一主机箱内可以升级至8通道温度采集响应时间：1μs 温度测量精度：±0.01℃ 通道测量解析度：12bit 通道噪声：±1bit 取样容量：每个通道64k 加热电压范围：标配1-10V，不确定度小于±1%。选配功率放大器，最大电压可达280V

主要功能：

各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构。各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。半导体器件结温测量。半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。