典型用户

场发射扫描电子显微镜

扫描电镜（SEM）品牌：JEOL 型号：JSM-7610F

仪器名称：

场发射扫描电子显微镜

英文名称：

Field Emission Scanning Electron Microscope (SEM)

所属分类：

分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜

学科领域：

信息科学与系统科学

主要技术指标：

1、二次电子图像分辨率：1.3nm（1KV），1nm（15KV）； 2、加速电压：0.1-30KV； 3、放大倍数：1000000； 4、背散射分辨率：3.0nm（加速电压15km，WD=5nm）； 5、配备二次电子探测器和背散射电子探测器； 6、配备低真空功能（可变压力：10-300pa） 7、图像储存像素：1280×960（大画幅），800×600（小画幅） 640×480（双画幅显示），640×480（四画幅显示）

主要功能：

各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。