扫描电子显微镜
扫描电镜（SEM）
品牌：TE
型号：VEGA II LSU
仪器名称：
扫描电子显微镜
英文名称：
Scanning Electronic Microscope
所属分类：
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域：
材料科学
主要技术指标：
包括扫描电子显微镜(主机捷克TESCAN)，电制冷型X射线能谱仪、电子背散射衍射系统（英国Oxford），显微图像分析系统（德国zeiss）。显微镜分辨率:高真空模式下：30kV 时3.0nm，3kV 时8.0nm（二次电子成像）,30kV 时3.5nm（背散射电子成像） 低真空模式下：30kV 时3.5nm，3kV 时<12.0nm（二次电子成像） 放大倍数:4-1000000x；x射线能谱仪元素分析范围：be4—u92；="" 能谱分辨率：mn="" ka优于130ev，c="" ka优于70ev，f="">
主要功能：
固体样品表面及断面微观形貌、结构观察与分析，原子衬度分析，样品微区元素成分分析等
