典型用户

原子力显微镜

X射线衍射仪(XRD) 品牌：布鲁克型号：Dimension ICON

仪器名称：

原子力显微镜

英文名称：

Atomic Force Microscope

所属分类：

分析仪器 > X射线仪器 > X射线衍射仪

学科领域：

物理学材料科学

主要技术指标：

1接触模式（Contact AFM） 2智能扫描模式（Scan Asyst） 3轻敲模式（ Tapping Mode） 4峰值力/皮牛轻敲模式（Peak Force Tapping） 5相位成像模式（Phase imaging） 6抬起模式（LiftMode） 7横向力/摩擦力显微镜（LFM） 8表面电场显微镜（EFM） 9表面电势显微镜 (KFM) 10压电响应模式（PFM） 11力曲线/力谱线（force Curve and Force Mapping） 12磁力显微镜 (MFM)

主要功能：

在大气环境下准确地观测样品表面微区(纳米及微米尺度)三维形貌；同时可对样品表面物理特性进行研究,能测试多种材料如半导体材料、膜材料、压电/铁电材料、二维纳米材料、高分子材料等

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