扫描电子显微镜(SEM)
扫描电镜(SEM)
品牌:德国
型号:Sigma300
仪器名称:
扫描电子显微镜(SEM)
英文名称:
scanning electron microscope
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 扫描电镜
学科领域:
物理学 化学 材料科学
主要技术指标:
分辨率:1.0nm@30kV STEM ;1.0nm @15 kV ;1.8nm @1kV;放大倍数:10-1,000,000×
5轴优中心全自动: X=125mm,Y=125 mm,Z=50 mm,T=-10º-90º,R=360º 连续系统控制:
X方向最大误差为-0.8%(在300×),Y方向最大误差为-0.48%(在10000×)
主要功能:
在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分 析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶 粒取向测量。