场发射透射电子显微镜
透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
品牌:日本电子
型号:JEM-2100F
仪器名称:
场发射透射电子显微镜
英文名称:
所属分类:
分析仪器 > 电子光学仪器 > 透射电镜
学科领域:
化学
主要技术指标:
3.1.1 电子枪
电子枪类型:肖特基发射(即热场发射)
亮度:≥4×108A/cm2/sr.(亮度高,相干性好,图像清晰)
束流 :≥0.5nA(束斑尺寸为1nmφ时)(小束斑大束流,使得能谱面扫描空间分辨率高)
*3.1.2 分辨率
*点分辨率:≤0.23nm
线分辨率:≤0.10nm
信息分辨率:≤0.14nm
能量分辨率:≤0.75eV
*背散射探头分辨率:≤1nm(可获得样品表面形貌信息,可结合能谱获得面扫描信息)
3.1.3 加速电压
最高加速电压: 200k
主要功能:
场发射透射电镜属于大型精密设备,可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研和教学工作,是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的仪器。