微波暗室测试系统

仪器名称：

微波暗室测试系统

英文名称：

Micowave chamber

所属分类：

电子测量仪器 > 射频和微波测试仪器 > 射频和微波测量系统

学科领域：

材料科学 动力与电气工程 电子与通信技术

主要技术指标：

1、 天线测试： 测试频段：1GHz-40GHz； 测试精度：优于0.5dB； 增益测量精度：优于0.1dB； 2、 天线罩测试：（大小φ≤600mm，重量≤80Kg） 测试频段：1GHz-40GHz； 测试精度：瞄准误差优于1mrad，透波率、方向图优于0.2dB； 3、 平板材料反射率、透波性能测试； 测试频段：1GHz-40GHz； 测试精度：经标校数据处理后：在1GHz以上精度优于1dB，5GHz以上精度优于0.5dB，10GHz以上精度优于0.2dB。

主要功能：

天线、天线罩、微波材料的近、远场电性能测试。